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低对比度测试卡

型号:

产品时间:2023-11-22

简要描述:

低对比度测试卡,测试卡由20mm厚的铝板制成。此模体包含有一组直径为1cm孔径(共21个圆孔)的铝制圆形盘构成。

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详细介绍

低对比度测试卡

低对比度模体此模体包含有一组直径为1cm孔径(共21个圆孔)的铝制圆形盘构成。如果使用 块衰减体模提供在自动曝光控制下使X射线衰减和硬化,使这些圆盘产生X射线辐射的对比度从0.8%到20%的变化,一个圆盘的所产生一级近似对比度如下:0.8%1096、1.496、18%、2.0%、2.3%、2.796、3.3%、3.9%、4.0%64.5%、5.5%6.696 7.6%、8.6%、10.8%、12.3%、14.5%、16.0%、18.0%、20.0%。

低对比度测试卡,测试卡由20mm厚的铝板制成。

在该铝板上均布lcm孔径圆孔,孔的深度(mm)及对比度(括号内数值96)0.07mm(03596)到32mm(16%)变化共计19个圆孔。它们分别是:

0.07(0.35%)、0.11(0.55%)0.15(0.75%)019(0.95)022(1196)0.26(1.3%)0.32(1.6%)、0.36(1.8%)0.44(22%)052(26%)088(44%06(53%)3668%)148(74%)176(8.8%)214(107%)2.5(12.596)2.9(14.5%)、32(16%)


 


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